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公司新聞:推出MEMS結(jié)構(gòu)振動測試的顯微式激光測振系統(tǒng)
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日期:18-07-24 瀏覽次數(shù):
 
MEMS結(jié)構(gòu)振動測試的顯微式激光測振系統(tǒng)

VSM-1000-MICRO顯微鏡激光測振儀

基于自混干涉技術(shù)的激光測振儀的構(gòu)造要比傳統(tǒng)的多普勒效應(yīng)的激光測振儀簡單得多。從半導(dǎo)體二極管出來的激光打到反射或散射表面后,一小部分背反射或背散射的光再次進到激光腔體,然后產(chǎn)生干涉信號,從中可以得到被測表面法向方向的位移 。

VSM-1000-MICRO有兩種激光。測量振動的激光是紅外(波長1310nm),不可見的。紅外和不可見激光是完全的眼睛安全的。另外一個紅色的指示激光是為不可見的紅外激光對中之用。為了不占滿攝像機,紅色指示激光的功率減到1mW,光斑大小為10um.激光測振儀被附在顯微鏡的特殊調(diào)節(jié)架上,邊通濾波鏡主要用以紅外激光和可見激光的反射,然后分別聚焦到測試目標上。濾波鏡能夠

傳遞20%從測試表面上散射回來的光,并且在CMOS攝像機的傳感器上聚焦。為了能對中方便,顯微鏡裝在一個俯仰、傾斜和旋轉(zhuǎn)位移臺上。顯微鏡激光測振儀測量測試表面的法向分量的振動。

         

應(yīng)用:本產(chǎn)品適用于硅片、ICLCD、TFTPCB、MEMS激光加工、晶片測試、半導(dǎo)體材料、線束加工蝕刻、液晶電池蓋、導(dǎo)線框架等產(chǎn)品的檢查觀察。

也適用于幾何形狀的顯微觀測,并且有三維的計量功能。因此是精密零件,集成電路,半導(dǎo)體芯片,光伏電池,光學(xué)材料等行業(yè)的必備儀器。

光學(xué)指標 :

激光類型 

Pout < 1 mW @ 650 nm(collimated)
Pout < 15 mW @ 1310 nm (focused)

激光等級:

· Class 2 @ 650 nm (可見)  
· Class 1M @ 1310 nm (不可見)

激光頭尺寸:50 mm x 70 mm x 105 mm

 

控制單元尺寸:12.5 cm x 15.5 cm x 29.6 cm

 

彩色攝像機指標

  • 130萬像素(1280 x 1024) 黑白,彩色和近紅外CMOS傳感器
  • 像素 1280 x 1024 Pixels
  • 工作距離: 21.7 mm
  • 激光深度: 0.048 mm
  • 光斑直徑: 4.0 μm 
  • 范圍:300um x 250 um (X50目鏡)

激光測振儀指標:

量程: 1mm (p-p)             頻率范圍:0-50 KHz 20KHZ-3 MHz 

分辨率: 0.2 nm s–1/√Hz      精度 +-1% (0-50KHZ),+-5%(20KHZ-3MHZ)

 

產(chǎn)品系列:

        

                                                                   顯微式三維掃描激光測振儀

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